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发振电路的评价方法
振荡频率的偏差（2）- 测量方法 -
本次介绍振荡频率偏差的测定方法。正如前章节《驱动功率（1）》中所述，振荡频率的偏差可以通过以下公式表示，因此测定的对象是 F CL 和 F circuit。
| F nom | ：实验用晶体谐振器的标称频率 |
| F CL※1 | ：实验用晶体谐振器（多数情况下为已安装在电路板上的晶体谐振器）在某一负载电容下的频率（基本上为晶体谐振器规格书中指定的负载电容） |
| F circuit※1 | ：将实验用晶体谐振器安装到被测电路中时的电路振荡频率。 |
※1：以上符号为本文说明方便所设定，并非通用符号。
１．F CL 的测定方法
＜概要＞
使用网络分析仪与负载电容夹具，按照以下测量步骤（适用于NDK生产的晶体谐振器已被安装在电路板上的情况※2）来测定F CL。
※2 若NDK生产的晶体谐振器未被安装在电路板上，请另行准备合适的NDK晶体谐振器，并将其作为实验用晶体谐振器使用。
＜测定步骤＞
| （１） | 使用烙铁等工具将安装在电路板上的晶体谐振器取下。 |
| （２） | 去除晶体谐振器上多余的焊锡，并等待晶体谐振器恢复至常温。 |
| （３） | 将晶体谐振器安装到负载电容夹具中（负载电容夹具的容量基本应为该晶体谐振器规格书中所规定的负载电容）。 |
| （４） | 将负载电容夹具连接到网络分析仪上，并按照网络分析仪的操作手册进行操作，测定F CL。 |
２．F circuit 的测定方法
＜概要＞
将实验用晶体谐振器安装到电路板上，按照以下测定步骤，测定在指定温度条件下的 F circuit
＜测量步骤＞
| （１） | 使用烙铁等工具将实验用晶体谐振器焊接到电路板上。 |
| （２） | 在指定的温度下稳定晶体谐振器及其周边后，使晶体谐振器振荡，并通过天线以非接触式※3取得数据。 |
| （３） | 使用频率放大器将天线接收到的振荡信号放大到频率计数器可以稳定测定到的信号电平。 |
| （４） | 使用频率计数器测定F circuit。 |
※3 使用电压探头接触振荡电路来测定振荡频率的情况下，需要加上该电压探头的容量，这样会导致振荡电路的容量发生变化，从而影响振荡频率。
NDK为了更精确地测定振荡频率，采用非接触式方式。
F circuit 的测定示意图如下所示：
