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发振电路的评价方法
起振时间 (2) - 测定方法 -
这次介绍起振时间的测定方法。
概要：使用低电容 / 高阻抗的电压探头获取振荡电路起振时的数据，并通过示波器读取。
＜测定步骤＞
| -1 | 将低电容 / 高阻抗的电压探头（NDK使用FET探头）前端接触测定部位（振荡电路的输入端）。 |
| -2 | 将FET探头连接到示波器的输入通道。 |
| -3 | 适当设置示波器的触发电平，以便能获取起振波形。 |
| -4 | 向振荡电路施加规定电压，使其开始振荡（此时立即获取起振波形）。 |
| -5 | 从获取的起振波形中读取起振时间（方法参照《起振时间 (1) - 概要 -》）。 |
测定步骤"5"操作后的状态示例如图1所示。
