今回は、起動時間について、概要をお伝えいたします。

起動時間の定義は場合によって異なりますが、NDKでは起動時間の標準的な定義を「発振段に発振バイアス電圧が印加されてから、発振の電圧振幅が飽和するまでの時間」としております。MHz帯の回路においては1 ms単位で、kHz帯の回路においては0.1 s単位で測定することを標準としております。

理論式は以下のとおりとなっております。

T_str：起動時間
k：比例定数
L₁：水晶振動子の等価直列インダクタンス（水晶振動子の等価回路参照）
|-R|：回路の負性抵抗（絶対値）
R_L：水晶振動子の負荷時等価抵抗

標準的な起動時間測定の例（オシロスコープの画像）を図1、図2に示します。

図1：発振段の電圧が0Vから発振バイアス電圧へ上がった場合。
図2：発振段の電圧がICのVDD電圧から発振バイアス電圧へ下がった場合。

また、お客様のご要望により起動時間の測定開始点を「ICの電源端子(VDD端子)に電圧が印加された時点」とするケースもあります。その際の起動時間測定の例（オシロスコープの画像）を図3に示します。

特別なご要望がない限り、NDKでは、図1、図2の方法で起動時間を測定いたします。