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サステナビリティ
発振回路評価方法
不具合事例について
今回は、不具合事例について、お伝えいたします。
不具合事例1:不発振
主に以下のケースの場合、不発振の可能性があります。
1.負性抵抗が不足している場合
関連事項として負性抵抗とは(1)<概要とNDKの目標値>を参照してください。
2.適切な帰還抵抗(Rf)が回路に無い場合
IC内部に帰還抵抗(Rf)が内蔵されている場合、図1のように外付けで帰還抵抗(Rf)がある必要は
ありません。

3.水晶振動子やICで規定された温度条件の範囲外で動作させた場合
4.回路に部品が正しく実装されていない場合
不具合事例2:発振周波数のズレ
主に以下のケースの場合、適正な発振周波数で発振しない可能性があります。
1.回路負荷容量と水晶振動子の負荷容量仕様に大きな差がある場合
関連事項として発振周波数の差(3)<改善方法>を参照してください。
2.水晶振動子の温度特性を考慮しなかった場合
関連事項として温度特性(1)<発振周波数の差>を参照してください。
3.回路に部品が正しく実装されていない場合
4.ICの内部設定が適切でない場合
ICの内部設定によって回路特性が変わることがあるため、これが適切でない場合、
発振周波数のズレが生じえます。
不具合事例3:正規のモードで発振しない
「基本波で発振する必要があるが、3次オーバトーンで発振してしまう」といった事例です。
詳しくは負性抵抗とは(5)<3次オーバトーン特性>を参照してください。
不具合事例4:発振の電圧レベルが適切でない
回路が求める発振の電圧レベルよりも実際の電圧レベルが過大もしくは過小であると、
回路全体の動作に問題が生じる場合があります。
発振の電圧レベルに影響する要素は主に以下です。
・回路定数(図1のCinやCoutやRdといった箇所に搭載される部品の定数)
・ICの内部設定
・ICのVDD電圧
尚、各回路における適切な発振の電圧レベルは、その回路に用いられているICのメーカーにお問い合わせください。
